當前位置:德國韋氏納米系統有限公司>>KLA/科磊>>探針式輪廓儀>> KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
產地類別 | 進口 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
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價格區間 | 50萬-100萬 | 應用領域 | 農林牧漁,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天 |
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀以市場的Tencor P-17臺式探針式輪廓儀系統為基礎。它涵蓋了P-17的優秀測量性能,為臺式探針式輪廓儀提供了出色的性價比。KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,掃描范圍可達150mm,無需拼接。
臺階高度:納米級到1000微米
恒定力控制:0.03至15mg
樣品的全直徑掃描,無需拼接
視頻:5MP高分辨率彩色相機
弧形校正:可消除探針的弧形運動引起的誤差
軟件:簡單易用的軟件界面
生產能力:全自動測量,具有測序、圖形識別和SECS/GEM功能
臺階高度:2D和3D臺階高度
紋理:2D和3D粗糙度和波紋度
形狀:2D和3D翹曲、形狀
應力:2D和3D薄膜應力
缺陷檢測:2D和3D缺陷表面形貌
高校、實驗室和研究所
半導體和化合物半導體
LED:發光二極管
太陽能
MEMS:微機電系統
數據存儲
汽車
醫療器械
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