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KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準確、靈活、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學測試，包括壓痕、硬度、劃痕和...

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學測試工具，可快速提供精確的定量分析結果。G200X系統可處理從硬質...

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統為硬盤驅動器基板和介質提供了高級缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅動器缺陷檢測和分類系統以...

KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統為金屬或玻璃數據存儲基板和成品介質提供了先進的量測和檢測功能。隨著數據存儲制造商努力通過進一步...

KLA Zeta™-388光學輪廓儀提供3D量測和成像功能，與集成防震臺和晶圓操作系統結合，可實現全自動測量。該系統采用ZDot™ 技術...

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全新的KLA Zeta™-Solar光學輪廓儀專為滿足優良金屬化工藝中對于細柵線、接觸墊和主柵線的測量需求而設計。更為優良的3D 成像技術，以及最大...

KLA Zeta™-20光學輪廓儀是一個高度集成的光學輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™ 技...

KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學輪廓儀和 Profilm3D-200 光學輪廓儀經濟實惠，是一套非接觸式基于白光干...

KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個高分辨率、自動化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙...

KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動化輪廓儀，可為生產環節提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、...