產(chǎn)品概述

入門手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合

FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是FormFactor多年開發(fā)自動光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗 - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門用戶的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可確保光纖可以精確對準(zhǔn)，從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。MPS150-SiPh 利用其直觀的設(shè)計，是經(jīng)驗不足的用戶發(fā)現(xiàn)光子學(xué)并獲得高精度測試結(jié)果的解決方案。

主要特點(diǎn)

鏡面反射鏡技術(shù)

• DUT 支架可實(shí)現(xiàn)高精度水平觀察

• CalVue 和 DieVue 使用戶能夠調(diào)整光學(xué)探頭以實(shí)現(xiàn)佳測量性能

• 允許對單根光纖和光纖陣列進(jìn)行表面耦合和水平邊緣耦合

傾斜底座定位器

• 在 6 個自由度內(nèi)手動或自動調(diào)整入射角

• 利用標(biāo)準(zhǔn)光纖支架

光學(xué)性能

• 系統(tǒng)可以配備FormFactor革命性的eVue數(shù)字成像系統(tǒng)或高性能SlimVue顯微鏡

• eVue 的革命性設(shè)計在光學(xué)分辨率、數(shù)字變焦和實(shí)時運(yùn)動視頻之間實(shí)現(xiàn)平衡。該系統(tǒng)使導(dǎo)航、觀察和測量設(shè)備比以往任何時候都更快、更智能。

• SlimVue™ 顯微鏡可減輕光子學(xué)集成電路 （PIC） 上小焊盤探測所需的高放大光學(xué)元件的機(jī)械干擾。

• 該系統(tǒng)使用戶能夠比以往任何時候都更快、更智能地導(dǎo)航、觀察和測量設(shè)備

• Spectrum 軟件允許用戶測量 z 位移

模塊化解決方案

• 如果用戶的測量要求發(fā)生變化，可以很容易地更換探針硬件

• 提供大的測量靈活性：壓板擴(kuò)展件可配置為執(zhí)行 3 端口光子學(xué)和/或電氣測量

• 可以配置自動定位器以獲得更快的測量結(jié)果。

易用性

• 符合人體工程學(xué)的簡單設(shè)計，操作舒適輕松

• 直觀的操作工作流程使所有經(jīng)驗水平的測量都盡可能簡單

• 通過拉出階段快速且符合人體工程學(xué)地更換 DUT