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國創科儀 通用型X射線吸收譜儀SuperXAFS H3000

核心參數

1.工作模式：支持近邊快掃功能；支持透射/熒光模式吸收譜

2.能量范圍：4.5-20keV

3.樣品處光通量：≥1×10? photons/s @7-9keV

4.能量分辨率：0.5-1.5eV@7-9keV

5.能量重復性：≤30meV@24h

6.調節機構精度：能量掃描最小步長 0.1eV

國創科儀 通用型X射線吸收譜儀SuperXAFS H3000

X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發射譜，分別用于分析元素的化學狀態和價態、原子周圍局部環境的配位結構，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態和非晶態材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。

X 射線吸收譜儀的應用領域

催化劑研究

分析催化劑活性中心的金屬價態（如 Pt²?/Pt?）、配位環境及原子間距，揭示催化反應機理（如燃料電池催化劑的氧還原活性）。

跟蹤催化劑在反應中的結構演變（如 CO 氧化反應中 Cu 基催化劑的價態變化）。

納米材料表征

測定納米顆粒（如量子點、納米氧化物）的表面原子配位和缺陷濃度（如 TiO?納米管中的氧空位）。

研究納米復合材料的界面電子結構（如石墨烯 - 金屬納米顆粒的電荷轉移）。

功能材料分析

探測電池電極材料（如 LiCoO?）的鋰嵌入 / 脫出過程中元素價態變化，優化電池性能。

分析磁性材料（如 Fe?O?）的局域磁環境，解釋磁有序機制。