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國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000

核心參數

1.能量范圍：2-20keV
2.樣品處光通量：≥1×10? photons/s @7-9keV
3.能量分辨率：0.4-0.9eV@2-5 keV
4.能量重復性：≤30 meV@24h
5.調節機構精度：能量掃描最小步長0.1eV

適用性強

滿足全部常規樣品測試的同時，亦可滿足特殊樣品測試，如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。

操作便捷

1.內置不同元素參數，快速切換測量。
2.提供標樣數據庫，簡化分析流程。
3.支持多樣品自動采集，減少進樣次數。
4.遠程實時監控，配備多重安全聯鎖設計。

國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000

X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發射譜，分別用于分析元素的化學狀態和價態、原子周圍局部環境的配位結構，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態和非晶態材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。