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低溫探針臺主要用于電學、磁學、微波、THz、光學等多種測量，可以根據客戶需要，選擇不同的溫度和磁場配置。客戶可以選擇自己搭配測試儀表集成各類測試，也可以選擇我們的整體測試解決方案，如電輸運測試、半導體分析測試、霍爾效應測試、鐵電分析測試，集成光學測試等。
┃ 設備特點
±2.5T磁場，可定制5T磁場
低溫至1.6K，高溫至675K
可測8英寸晶圓樣品
67GHz高頻探針
3 kV 高電壓探針
大溫區低溫漂探針
真空腔聯用傳送樣品
＜30 nm低振動適用于顯微光學測量
霍爾效應、鐵電、半導體分析測試選件
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