超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm) 參考價：面議
超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm)產品描述：筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探...
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄...
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
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BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
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BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm 參考價：面議
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WinCamD-LCM-NE-1310 近紅外增強相機型光斑分析儀 (355-1350nm) 參考價：面議
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1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 參考價：面議
1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 產品應用激光光束分析：輪廓，光束尺寸，位置，功率激光光束質量分析多波長激光準直
BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 參考價：面議
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CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 參考價：面議
BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂...
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
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激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 參考價：面議
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)產品總覽BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統，用于實...
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm 參考價：面議
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WinCamD-LCM-TEL 相機型光斑分析儀 (1480-1605nm) 參考價：面議
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WinCamD-LCM-NE 近紅外增強型光斑分析儀 (355-1150nm) 參考價：面議
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WinCamD-LCM-1310 含長通濾光片光斑分析儀 ( 355-1350nm) 參考價：面議
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WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀 參考價：面議
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀應用CW 激光輪廓激光器和基于激光器的系統的現場服務光學組件和儀器對準使用可用的M2DU平臺進行M...
WinCamD-UHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀 參考價：面議
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BeamOn LA 強脈沖光及大尺寸激光光斑分析儀 VIS-NIR 350-1310nm 參考價：面議
BeamOn LA 強脈沖光及大尺寸激光光斑分析儀 VIS-NIR 350-1310nm產品應用：大尺寸激光光斑分析：輪廓、光斑尺寸、位置、功率激光器和IPL質...
WinCamD-LCM-UV 相機型光斑分析儀 (190-1150nm) 參考價：面議
WinCamD-LCM-UV 相機型光斑分析儀 (190-1150nm)應用領域連續和脈沖激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄...
2-16um中遠紅外光束質量分析儀 參考價：面議
2-16um中遠紅外光束質量分析儀中遠紅外光束質量分析儀基于相機的光束分析系統是使用極廣泛的，它無法獲得最高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或...
BeamOn U3-VIS NIR光束質量分析儀 350-1600nm 參考價：面議
BeamOn U3-VIS NIR光束質量分析儀 350-1600nm產品總覽U3光束質量分析儀是一種光束測量系統，用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該...
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