垂直磁各向異性評價系統 BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 參考價：面議
垂直磁各向異性評價系統 BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產品總覽在固定磁場方向下具有旋轉樣品架的角度依賴性分析系統。
熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 參考價：面議
熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產品總覽產生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質（HAMR...
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產品總覽軟磁層的非接觸式評估系統，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產品總覽具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質（PMR）非接觸評估系統。
微型克爾環路測量系統 BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
微型克爾環路測量系統 BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產品總覽基于二極管激光器的克爾環路測量系統。可進行幾微米尺度的顯微局部測量。
克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于動態（實時）磁疇觀測和顯微克爾環測量的組合系統。
基于激光GHz聲波振動觀測系統 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
基于激光GHz聲波振動觀測系統 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克）基于激光的觀測系統，專門設計用于顯示基于電介質/壓電的高頻設備的表面聲波 s...
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統。
用于晶圓的極向克爾效應測量系統 BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
用于晶圓的極向克爾效應測量系統 BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于磁性半導體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標映射測量的非接觸式評估系統。
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 參考價：面議
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉盤可接最多四個物鏡
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT 參考價：面議
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振）產品總覽三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用...
中紅外MIR光電探測器 2.6-4.6um (TO-18 光敏直徑0.5mm) 參考價：面議
筱曉(上海)光子技術有限公司是一家被上海市評為高新技術企業的專業光學服務公司，業務涵蓋設備代理以及項目合作研發，建有*的AOL(Advanced Optical...
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 參考價：面議
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉盤可接最多四個物鏡
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