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測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：點接觸式測厚儀；面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：激光測厚儀；超聲波測厚儀；涂層測厚儀；X射線測厚儀；白光干涉測厚儀；電解式測厚儀；管厚規。
EPK麥考特MIKROTEST G6屬于涂層測厚儀：
涂層測厚儀：
涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
涂鍍層測厚儀測量原理：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
EPK麥考特MIKROTEST G6準確測量
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