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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240測量原理
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240運用 X 射線熒光光譜法，通過測量樣品受激發后發出的 X 射線熒光強度和能量，來確定鍍層的厚度和成分，采用無損檢測方式，具備自動聚焦功能，可保障樣品完整性與測量準確性。
硬件性能
移動平臺：配備動 X/Y 平臺，移動范圍≥95x150mm，可用工作臺面≥420x450mm，能滿足多樣品放置與測量需求；當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置，方便操作。
電動 Z 軸：電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦，移動范圍≥140mm，可適配不同高度的樣品，確保測量時樣品處于最佳位置。
DCM 技術：采用測量距離補償法 (DCM)，可實現 80mm 深度的腔體樣品遠距離對焦測量，有效解決了深腔樣品測量難題。
高壓調節：可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調節，可根據不同的測試樣品和場景，靈活選擇合適的高壓，以獲得最佳的測量結果。
準直器：標配 φ0.3 的圓形準直器，可提升測量精度，同時還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 等多種準直器可供選擇，滿足不同測量需求。
X 射線探測器：采用比例接收器，能夠穩定接收信號，確保測量數據的準確性和可靠性。
攝像頭：內置高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數 40-160 倍，便于樣品觀察定位，沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置；配備手動聚焦、十字線 (帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 以及可調節亮度的 LED 照明，還有激光光點用于準確定位樣品，方便操作人員快速、準確地放置和定位樣品。
