簡介

Jordan Valley公司zui新設計的Delta-X是多功能的X射線衍射設備，可靈活應用于材料科學研究、工藝開發、與生產質量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和探測臺的光學元件可以全自動化調控，并采用水平式樣品臺。Delta-X衍射儀可以在常規衍射模式、高分辨率衍射模式、X射線反射模式之間靈活切換。光學配置的切換*在菜單式程序控制下由計算機完成，無需手動操作。自動化切換和準直不需要專門人員和操作設備，并確保每次切換都能達到zui佳的光學準直狀態。

常規的樣品測量可以通過Delta-X衍射儀，實現部分、乃至*的自動化運行，自動化測量程序可以依客戶需求進行專門定制。也可采用*的手動模式操作Delta-X衍射儀，以便發展新測量方法，研究新材料體系。

數據分析或擬合可以作為測量程序的一部分，可實現*自動化，也可依據需要單獨進行數據分析。 依半導體生產線的需求，將RADS和REFS擬合軟件以自動化模式運行，允許在沒有用戶干擾的情況下自動完成常規性的數據分析，并直接完成數據擬合和結果輸出。RADS和REFS也可以單獨安裝，以便進行更詳細的數據分析。

Delta-X衍射儀能滿足科學研究所和技術開發中心 不同材料體系的*測試需求。

Delta-X 衍射儀的主要特點和優勢

• 自動化進行樣品準直、測試、和數據分析
• 客戶可以自行設定測量的自動化程度
• 300mm的歐拉環支架(Eulerian Cradle)設計，高精度的樣品定位和掃描
• 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mapping
• 100º的Chi軸傾轉范圍、無限制范圍的Phi軸旋轉空間，可實現極圖和殘余應力測試
• 智能化的光學配置切換和準直。依測量需要，自動選擇光學配置并實施光學準直
• 工業界先的設備控制軟件和數據分析軟件
• 高分辨率測角儀，以保證精密且準確的測量
• 高強度的光源臺設計和光學元件組合，以實現快速測量
• 多方面廣泛的測試技術和測量參數
• 由擁有超過30年的高分辨率X射線衍射經驗的世jie級專家設計、制造，具有客戶經驗。

Delta-X衍射儀的特點和優勢

自動化控制的光學系統:

Delta-X衍射儀的入射束包括多種標準的光學配置模式，以便使光學配置具有充分的靈活性，且易于操作。可以依據測量樣品的材料類型，選擇參考晶體。

• 標準模式：用于所有系統，平行束多層膜高反鏡
• 其他四種光學系統可以選擇和安裝：
  • Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)
  • Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)和一個參考晶體(二次反射)
  • 兩個獨立的參考晶體(二次反射)：參考晶體的材料類型和分辨率有多種設計供選擇，以便提供與測量zui匹配的分辨率。
  • 兩個參考晶體，以Bartels模式安裝
• 參考晶體和高反鏡均可自動化切換
• 不需要將參考晶體和高反鏡手動移出衍射儀，保證光學元件不被損壞、不偏離準直狀態。
• 衍射儀的初始準直易于操作，安全可靠，無需在設備內開啟X射線操作。

樣品臺

可放置直徑≤300mm晶片或多個小尺寸晶片、樣品

Delta-X衍射儀的歐拉(Eulerian )環支架設計允許放置單個或多個晶片或樣品，并提供多個轉動軸的大范圍、高再現性的精確移動控制。

• 水平式樣品放置
• 可實現X和Y軸方向上，300mm內的完整mapping測量，無邊緣測量失真的現象
• 10mm的Z軸高度范圍，即使對厚樣品也可以調整晶片高度，獲得zui佳測量位置
• 在樣品盤的不同位置，設計了均勻、無扭曲的真空輕度吸附，既適合大尺寸晶片放置，又適合獨立、小尺寸晶片的多片式放置
• 100°的Chi軸傾轉范圍，可實現完整的極圖和殘余應力測量
• Phi軸的旋轉范圍無限制，可實現完整的極圖和面內衍射測量

“邊緣至邊緣”全晶片測量 (無邊緣測量失真現象)

Delta-X衍射儀支持全晶片測量，無邊緣測量失真的現象。

特殊環境樣品臺

Delta-X衍射儀可選配高溫臺，并用于各種測試技術。

• 樣品尺寸≤25mm
• XRR/XRD/HRXRD等技術均可實現
• zui高溫度可達1100℃
• 可實現真空、空氣、特殊氣體等不同的測量環境
• 可實現溫度的計算機自動控制

探測臺

閃爍式高性能點探測器

探測系統具有顯著提高響應特性等多方面的特點：

• EDRc (動態響應范圍增強型)探測器的動態響應范圍>2x107cps。配置全自動化衰減器后，動態響應范圍可提高至5x108cps。
• 選配三軸分析晶體和Soller狹縫，可自動化準直，以保障各項測量所需的分辨率。
• 馬達驅動的自動化探測狹縫。無需手動調整，即可控制探測臺的接收精度。
• 超快速掃描引擎和軟件。大范圍掃描可以在5秒內完成。

性能的線探測器(選配件)

提供一維(1D)線探測器可供選擇，能實現束線信號的同步平行采集，能顯著提高XRD的測量速度。特別適用于小束斑條件下的XRD測量、和快速HRXRD倒易空間map測量。

• 自動化束線準直