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探針式表面輪廓儀在嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面...

Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試，Dektak臺...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試，Dektak臺...

Bruker臺階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺階儀）；實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性。實現了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、...

布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計創新，Bruker探針式表面輪廓儀（臺階儀）；實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性5Å。產品源自...

臺階高度重復性優于5埃（5 Å）?單拱龍門式設計實現了突破性的掃描穩定性?良好的"智能化電子器件"實現了低噪聲的新標桿操作簡便，高效易用?直觀化的Vi...