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詳細摘要： IT6432雙通道雙極性電源IT6400系列*的雙極性電壓/電流輸出，可以用作雙極電源或雙極電子負載，其電池特性模擬功能尤其適用于便攜式電池供電產(chǎn)品的測試。高達...

詳細摘要： Keysight E5061B ENA 系列網(wǎng)絡分析儀Keysight（原Agilent） E5061B 是一款 ENA 系列網(wǎng)絡分析儀，可以滿足廣泛的低頻至高...

詳細摘要： Tektronix DSA8200 采樣示波器為*挑戰(zhàn)的系統(tǒng)設計提供信號高保真度。當前高速電路使得信號路徑檢定和BER分析的挑戰(zhàn)性進一步提高。由于Z高的TDR帶...

詳細摘要： 7935晶圓檢測系統(tǒng)主要特色：?Z大可檢測8“ 晶圓 （檢測區(qū)域達10“ 範圍 ）?可因應不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目?上片後晶圓對位機制?自動尋邊功能可適...

詳細摘要： 3112 晶片測試分類機主要特色：?高信賴度之PnP自動化測試分類機?x4 多盤置入自動測試分類?* （X/Y/Z/θ） 可調(diào)式探針座模組?測式座產(chǎn)品堆疊檢測?...

詳細摘要： 3813 觸碰面板多點半自動測試機主要特色：?可靠的觸碰面板測試機?適合數(shù)位式觸碰面板與類比式觸碰面板?面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 1...

詳細摘要： 3380-P VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?85 MHz 測試頻率?512 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）?平行測試可達 512 ...

詳細摘要： 3380-D VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?100 MHz 測試頻率?256 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）?平行測試可達 256...

詳細摘要： 3380 VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50/100 MHz 測試頻率?50/100 Mbps data rate?1024 I/O pins （Z高可至1280...

詳細摘要： 3360-P VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?25/50 MHz 測試頻率?25/50 Mbps data rate?256 logic I/O pins?8M （...

詳細摘要： 3360-D VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50 MHz 測試頻率?32/64 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性...

詳細摘要： 3360 VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50 MHz 測試頻率?608 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性化硬體結...

詳細摘要： 3280 Test-In-Tray測試分類機主要特色：?整合SD卡測試機與自動分類機功能?平行測試120個micro SD卡?Test-In-Tray?UPH ...

詳細摘要： 3650-EX SoC/Analog 測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?1024個 I/O 通道（I/O Channel）?32M （64M ...

詳細摘要： 3650-CX SoC測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?256個 I/O 通道（I/O Channel）?16/32 MW vector 記憶...

詳細摘要： 3650 SoC 測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?512個 I/O 通道（I/O Channel）?16M （32M Max.） Patte...

詳細摘要： 33010 High Speed PXIe Digital IO Card主要特色：?Standard PXIe-Hybrid [3U] compatible ...

詳細摘要： 3680 Advanced SoC/Analog Test System主要特色：?24 interchangeable slots for digital, ...

詳細摘要： 3160 4site終端測試分類機主要特色：?9K pcs 產(chǎn)能 （Model 3160 / 3160A ）?彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 （3160F）?1~...

詳細摘要： 直流電源供應模組Model36020主要特色：?相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道?+5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force rang...