3360-D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 50 MHz 測(cè)試頻率
• 32/64 個(gè) I/O 通道
• 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu)
• 平行測(cè)試 : zui多 8 DUTs
• Real Parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, V50, SC312, J750)
• Analog PE card 選配 (16 bits)
• SCAN 測(cè)試 選配 (512M)
• ALPG 測(cè)試 選配供記憶體用
• STDF 工具支援 (選配)
• 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.