國創(chuàng)科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000

核心參數(shù)

1.能量范圍：4.5-20keV

2.樣品處光通量：≥1×10? photons/s @7-9 keV

3.能量分辨率：0.5-1.5 eV@7-9 keV

4.能量重復(fù)性：≤30 meV@24h

5.調(diào)節(jié)機構(gòu)精度：能量掃描最小步長0.1eV

工作模式

1.支持近邊快掃功能。

2.支持透射/熒光模式吸收譜、發(fā)射譜。

功能亮點

1.定制多樣品自動采集，減少進樣次數(shù)。

2.提供標(biāo)樣數(shù)據(jù)庫，簡化用戶分析。

3.支持原位場景定制，提供吸收譜專業(yè)數(shù)據(jù)解析指導(dǎo)。

國創(chuàng)科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的非破壞性技術(shù)。該技術(shù)利用 X 射線與物質(zhì)的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發(fā)射譜，分別用于分析元素的化學(xué)狀態(tài)和價態(tài)、原子周圍局部環(huán)境的配位結(jié)構(gòu)，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態(tài)和非晶態(tài)材料微觀配位結(jié)構(gòu)的重要手段。XAFS/XES主要應(yīng)用于催化劑 、合金、陶瓷、環(huán)境污染物、各類晶態(tài)和非晶態(tài)材料及生物樣品內(nèi)金屬離子的價態(tài)、配位結(jié)構(gòu)及電子狀態(tài)分析，以及材料局部結(jié)構(gòu)在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結(jié)構(gòu)動態(tài)演化過程研究等。