SuperXAFS T2000 寬能譜X射線吸收譜儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 國創科學儀器（蘇州）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 SuperXAFS T2000
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/7/9 16:09:31
- 訪問次數 94
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國創科學儀器(蘇州)有限公司是一家專注于X射線科學儀器研發與產業化應用的科技型企業，由長三角國家技術創新中心與長三角先進材料研究院聯合創立。
公司定位：為化學、物理、材料等領域提供具有競爭力、安全可靠的儀器設備、解決方案及服務。
核心優勢：
● 研發實力：團隊擁有近二十年同步輻射研究經驗，完成十余項國家及省部級項目，獲二十余項zhuanli。
● 創新產品：
(1)臺式中能X射線吸收譜儀(國內供應商)；
(2)寬能譜、快掃型、多功能等系列X射線吸收譜儀；
(3)通用型硬X射線吸收/發射譜儀。
● 持續投入：專注于為用戶提供專業化的X射線技術解決方案。
X射線吸收譜儀
| 應用領域 | 化工,綜合 | 能量范圍： | 2-20keV |
|---|---|---|---|
| 樣品處光通量： | ≥1×10? photons/s @7-9keV | 能量分辨率： | 0.4-0.9eV@2-5 keV |
| 能量重復性： | ≤30 meV@24h | 調節機構精度： | 能量掃描最小步長0.1eV |
國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000
核心參數
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適用性強
滿足全部常規樣品測試的同時，亦可滿足特殊樣品測試，如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。
操作便捷
1.內置不同元素參數，快速切換測量。
2.提供標樣數據庫，簡化分析流程。
3.支持多樣品自動采集，減少進樣次數。
4.遠程實時監控，配備多重安全聯鎖設計。
國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000
X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴展遠邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發射譜，分別用于分析元素的化學狀態和價態、原子周圍局部環境的配位結構，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態和非晶態材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。
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