BeNano 180 Zeta Max 沉降法檢測(cè)微米級(jí)顆粒粒徑信息
關(guān)鍵詞:沉降法、粒度、微米級(jí)粒徑
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀中在0°角設(shè)置一個(gè)PD檢測(cè)器,通過(guò)檢測(cè)透射光的光強(qiáng)隨時(shí)間的變化,檢測(cè)沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法得到的是顆粒的斯托克斯徑,粒度測(cè)試的適合范圍在幾微米至幾十微米,可以有效地彌補(bǔ)動(dòng)態(tài)光散射對(duì)于大顆粒檢測(cè)的限制。
在這篇應(yīng)用報(bào)告中,使用丹東百特BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀檢測(cè)了多種微米級(jí)粒徑的樣品的粒度信息并與激光衍射法對(duì)應(yīng)粒徑進(jìn)行了比較。

原理
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀基于透射光路檢測(cè)樣品的透射光強(qiáng)度,然后基于斯托克斯方程

計(jì)算體系的粒徑和粒徑分布信息,測(cè)試需要對(duì)應(yīng)溫度下分散介質(zhì)的折射率、密度和粘度信息、對(duì)應(yīng)溫度下顆粒物的折射率和密度和樣品體積。
實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)中測(cè)試了三種材質(zhì)微米級(jí)樣品,分別是硅酸鹽顆粒、PMMA顆粒和氧化鋁顆粒,其信息如下表:

通過(guò)百特Bettersize2600激光粒度分析儀分別對(duì)樣品進(jìn)行了測(cè)試得到其D50值,通過(guò)BetterPyc 380多功能真密度儀檢測(cè)了樣品的密度信息。
將樣品和水按照一定比例混合放入光程為10mm的方形玻璃樣品池中進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試前恒溫120秒,使樣品達(dá)到平衡溫度,然后利用移液槍將樣品混合均勻開(kāi)始收集信號(hào)。
結(jié)果分析和結(jié)論

圖1. BeNano樣品沉降法得到的D50粒徑
與激光粒度儀得到的D50粒徑對(duì)比曲線
表1. BeNano樣品沉降法得到的D50粒徑與激光粒度儀得到的D50粒徑值表

通過(guò)圖1和表1的曲線和數(shù)據(jù)可以看到,對(duì)于2-60μm范圍內(nèi)多種材質(zhì)多種粒徑的微米級(jí)樣品,通過(guò)BeNano沉降法得到的斯托克斯徑D50值與激光粒度儀得到的體積中徑D50值一致性較好。這充分說(shuō)明了BeNano沉降法對(duì)于微米級(jí)粒徑的處理能力,有效地?cái)U(kuò)展了納米粒度及Zeta電位儀的粒徑測(cè)試范圍和應(yīng)用領(lǐng)域。
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