XUL220菲希爾X射線測厚儀屬于能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）測量儀器，通過 X 射線激發樣品表面，分析鍍層厚度及材料成分。其核心優勢包括：

菲希爾X射線測厚儀多場景適用性：

測量單 / 雙 / 三層鍍層系統（如金屬基材上的鋅、鎳、鉻等鍍層）。

分析雙元 / 三元合金鍍層成分（如鋅鎳合金、銅錫合金）及電鍍液中金屬離子含量。

支持珠寶、貴金屬中金含量的快速無損檢測（需搭配 WinFTM® 軟件及校準標準塊）。

高效測量設計：

自下而上測量方向：X 射線管和探測器位于測量臺下方，被測樣品直接放置于透明窗口，無需調整距離即可自動定位，尤其適合螺絲、螺母、連接器等幾何復雜的小工件。

手動 XY 工作臺：支持 ±50mm 范圍內的精細移動，確保微小區域（如 PCB 焊點）的精準測量。

智能化操作：

搭載WinFTM® 軟件，提供中、英、德等多語言界面，支持統計分析（如 SPC 圖、概率圖）、報告生成及數據導出。

視頻輔助系統：高分辨率攝像頭實時顯示測量區域，疊加校準刻度和十字線，輔助定位并減少人為誤差。