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《試驗箱在智能醫療設備芯片領域的安全性測試》

來源:廣東皓天檢測儀器有限公司   2025年08月08日 09:39  

《試驗箱在智能醫療設備芯片領域的安全性測試》

一、試驗目的

東莞皓天檢測儀器有限公司針對智能醫療設備芯片開展安全性測試,旨在模擬芯片在臨床使用、運輸存儲及環境下可能面臨的各類風險場景,驗證其電氣安全、功能穩定性及環境耐受性。通過量化評估芯片在高低溫沖擊、電磁干擾、電壓波動、機械應力等條件下的運行狀態,確保其符合 IEC 60601-1(電氣設備安全通用標準)、GB 9706.1-2020 等法規要求。為芯片設計企業優化電路防護、提升材料兼容性及完善安全機制提供數據支撐,最終保障智能醫療設備(如監護儀心臟)在診療過程中的可靠運行,降低患者使用風險。

冷熱沖擊試驗箱A12c 800×800.jpg


二、實驗 / 設備條件

(一)核心試驗設備(東莞皓天專屬配置)

  1. 高低溫沖擊試驗箱(HT-CJ-1000)

溫度范圍 - 60℃~200℃,冷熱沖擊轉換時間≤10 秒,支持氣態 / 液態沖擊模式,用于測試芯片在驟變溫度下的電氣參數穩定性及封裝可靠性。
  1. 電磁兼容(EMC)測試系統(HT-EMC-800Pro)

包含 10kHz~6GHz 電磁輻射抗擾度測試模塊、靜電放電(ESD)發生器(接觸放電 ±30kV,空氣放電 ±30kV),可模擬醫院電磁環境(如 MRI 設備、干擾)對芯片的影響。
  1. 電源瞬態測試系統(HT-DY-600)

輸出電壓 0~30V,電流 0~10A,支持電壓跌落(0~90% 跌幅)、浪涌(±2kV)、尖峰脈沖(±5kV)模擬,驗證芯片電源管理模塊的抗干擾能力。
  1. 機械應力測試臺(HT-JL-750)

可施加 0~500N 壓力、1~500Hz 振動(正弦 / 隨機模式),配備芯片級微應變傳感器,測試芯片封裝及焊點在機械應力下的結構完整性。
  1. 濕熱循環試驗箱(HT-SR-900)

溫度 40℃~85℃,濕度 85%~98% RH,支持 1000 次以上循環測試,評估芯片在高濕環境下的絕緣電阻、漏電流等電氣安全指標。

(二)輔助設備

  • 半導體參數分析儀(測試精度 ±0.01%,支持 1fA 級電流測量)

  • 紅外熱像儀(分辨率 640×512,測溫范圍 - 20℃~150℃)

  • 絕緣電阻測試儀(測試電壓 100V~1000V,量程 10?~101?Ω)

  • 示波器(帶寬 2GHz,采樣率 10GS/s,支持眼圖分析)

三、試驗樣品

選取 4 類智能醫療設備核心芯片,覆蓋關鍵診療功能:
  1. 生命體征監測芯片(樣品 X):集成心率、血氧、體溫檢測模塊,輸出數據直接影響臨床診斷。

  2. 控制芯片(樣品 Y):負責胰島素注射劑量計算與電機驅動,需具備高的運算精度和抗干擾能力。

  3. 心臟放電控制芯片(樣品 Z):控制高壓脈沖輸出時機與強度,其安全性直接關系患者生命。

  4. 影像處理芯片(樣品 W):用于超聲、內窺鏡設備,處理圖像信號并傳輸至顯示終端,需保證數據完整性。

四、試驗步驟及條件

(一)電氣安全基礎測試(樣品 X、Y、Z、W 共同參與)

  1. 絕緣電阻與漏電流測試

將芯片置于濕熱循環試驗箱,按 “40℃/90% RH(12h)→常溫(12h)” 循環 50 次。每 10 次循環后,用絕緣電阻測試儀(500V 測試電壓)測量芯片引腳與外殼間絕緣電阻(要求≥100MΩ),用漏電流測試儀檢測正常工作狀態下的漏電流(要求≤10μA)。
  1. 電源瞬態抗擾度測試

在電源瞬態測試系統中,對芯片施加:
    • 電壓跌落:幅度 70%,持續 20ms,重復 100 次;

    • 浪涌:線 - 線 ±1kV,線 - 地 ±2kV,正負極性各 10 次;

測試過程中監控芯片是否出現復位、數據丟失或功能失效。

(二)環境耐受性測試(樣品 X、Y、Z、W 共同參與)

  1. 高低溫沖擊測試

采用高低溫沖擊試驗箱,設置:
    • 高溫區 125℃(保持 30min),低溫區 - 40℃(保持 30min),轉換時間≤5s;

循環 100 次后,測試芯片常溫下的工作電流、輸出信號精度(如樣品 X 的血氧測量誤差需≤2%)。
  1. 電磁干擾測試

在 EMC 測試系統中進行:
    • 輻射抗擾度:80MHz~2.5GHz,電場強度 30V/m,調制 1kHz 正弦波;

    • 靜電放電:接觸放電 ±8kV,空氣放電 ±15kV,每個放電點 10 次;

記錄芯片在干擾下的誤動作率(要求≤0.1%)。

(三)專項安全測試(分樣品測試)

  1. 樣品 Z(控制芯片)

    • 高壓耐受測試:模擬除顫脈沖(2kV,10ms),重復 1000 次,測試芯片高壓隔離層是否擊穿,控制邏輯是否紊亂。

  1. 樣品 Y(芯片)

    • 劑量精度測試:在振動環境(10Hz~500Hz,加速度 5g)下,連續運行 100 小時,記錄芯片計算的注射劑量與實際劑量偏差(要求≤±2%)。

  1. 樣品 X(監護儀芯片)

    • 信號完整性測試:在電磁輻射(1GHz,20V/m)環境下,輸入標準生理信號(如心率 60 次 / 分鐘,血氧 98%),測試芯片輸出信號的信噪比(要求≥60dB)。

  1. 樣品 W(影像處理芯片)

    • 數據傳輸測試:在溫度循環(-20℃~70℃)下,連續傳輸 1000 幀標準圖像,統計數據丟包率(要求≤0.01%)。

五、數據采集與分析

  1. 關鍵安全指標記錄

    • 電氣安全:絕緣電阻、漏電流、電源瞬態下的功能失效次數;

    • 環境測試:高低溫沖擊后的參數偏移量、電磁干擾下的誤動作率;

    • 專項測試:高壓耐受次數、劑量偏差值、信號信噪比、數據丟包率。

  1. 風險等級評估

采用東莞皓天自研的 FMEA(故障模式與影響分析)模型,將測試數據量化為風險優先級(RPN):
    • RPN = 嚴重度(S)× 發生概率(O)× 探測度(D);

    • 嚴重度 S:1(無影響)~10(致命風險);

例如:樣品 Z 若出現高壓隔離擊穿,S=10;樣品 W 數據丟包率超標,S=5。
評估結果分為 “可接受(RPN≤60)”“需改進(60<RPN≤100)”“高風險(RPN>100)” 三級。

六、實驗結果與結論

(一)單項測試結果

  1. 樣品 Z:高壓耐受測試 800 次后,隔離層漏電流增至 50μA(標準≤10μA),RPN=80(需改進);

  1. 樣品 Y:振動環境下劑量偏差達 3.5%(超標),RPN=75(需改進);

  1. 樣品 X:電磁干擾下血氧測量誤差增至 4%,RPN=65(需改進);

  1. 樣品 W:高低溫沖擊 50 次后,數據丟包率 0.005%(達標),RPN=30(可接受)。

(二)綜合結論

  1. 智能醫療設備芯片的安全性短板集中在:高壓隔離可靠性(樣品 Z)、振動環境下的精度保持(樣品 Y)、電磁抗擾度(樣品 X);

  2. 東莞皓天的 EMC 測試系統和高低溫沖擊試驗箱可有效暴露芯片在環境下的安全隱患,其中電源瞬態測試對芯片電源防護設計的驗證尤為關鍵;

  3. 樣品 W(影像處理芯片)整體安全性表現優異,其余三類芯片需針對性改進。

    七、失效分析與改進建議

    (一)失效原因分析

    1. 樣品 Z:高壓隔離層采用普通環氧樹脂封裝,耐溫性不足(Tg=120℃),高溫沖擊后絕緣性能下降;

    1. 樣品 Y:內部晶振頻率受振動影響漂移(±50ppm),導致劑量計算偏差;

    1. 樣品 X:信號輸入端未設計多級濾波電路,電磁干擾易耦合至測量信號;

    1. 樣品 W:采用陶瓷封裝和差分信號傳輸設計,抗干擾能力較強。

    (二)改進建議

    1. 材料與結構優化

      • 樣品 Z:改用耐高溫聚酰亞胺隔離層(Tg=250℃),增加金屬屏蔽罩接地設計;

      • 樣品 Y:選用溫補晶振(頻率穩定度 ±10ppm),內部電路增加減振灌封膠(硬度 Shore A 60)。

    1. 電路設計升級

      • 樣品 X:信號輸入端增加 π 型濾波網絡(包含 TVS 管和磁珠),電源端采用 LDO + 瞬態抑制電路;

      • 所有芯片:增加 watchdog 定時器和硬件復位電路,確保異常時快速恢復安全狀態。

    1. 測試流程強化

    建議在芯片驗證階段增加 “電磁干擾 + 溫度循環” 復合測試(利用東莞皓天綜合環境試驗箱),模擬醫院復雜環境下的長期運行場景,提前發現潛在安全風險。
    東莞皓天可提供從芯片級到整機級的全鏈條安全測試服務,包括定制化試驗方案設計、失效機理分析及改進驗證。如需針對某類芯片開展更嚴苛的極限測試(如太空級輻射環境),可聯系技術團隊獲取專項方案。

    以上方案僅供參考,在實際試驗過程中,可根據具體的試驗需求、資源條件以及產品的特性進行適當調整與優化。


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