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推拉力測試機操作手冊:硅基WLP封裝焊球剪切/拉脫測試詳解

來源:蘇州科準測控有限公司   2025年08月04日 10:54  

隨著半導體封裝技術向微型化、高密度方向發展,晶圓級封裝(Wafer Level Packaging, WLP)已成為先進封裝技術的重要代表。硅基WLP封裝因其優異的電氣性能、小型化優勢和高可靠性,在移動設備、物聯網和人工智能等領域得到廣泛應用。然而,在復雜的使用環境和嚴苛的可靠性要求下,WLP封裝界面容易出現開裂、分層等失效問題,嚴重影響產品可靠性。

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科準測控團隊針對這一技術挑戰,采用Alpha W260推拉力測試機開展系統性失效分析研究。本文將從測試原理、行業標準、儀器特點和操作流程等方面,全面介紹硅基WLP封裝的機械可靠性評估方法,為封裝工藝優化和質量控制提供科學依據,助力半導體封裝行業提升產品良率和可靠性水平。

 

一、測試原理

硅基WLP封裝失效分析的核心在于評估其內部互連結構的機械強度,主要包括焊球剪切力和焊點拉脫力兩個關鍵指標:

1、剪切測試原理

通過精密控制的剪切工具對焊球施加平行于基板方向的力

測量焊球與基板或芯片間界面剝離所需的峰值力

記錄力-位移曲線,分析失效模式和強度特征

2、拉脫測試原理

使用專用夾具垂直拉伸焊球或凸塊

測量界面分離時的最大拉力

分析斷裂面位置判斷失效機理(界面斷裂或內聚斷裂)

3失效模式判別:

界面失效:發生在金屬與鈍化層或UBM層界面

內聚失效:發生在焊料內部或IMC層內部

混合失效:多種失效模式同時存在

 

二、測試標準

硅基WLP封裝推拉力測試遵循以下主要國際標準:

1、JESD22-B117A

焊球剪切測試標準方法

規定測試速度、工具幾何尺寸等關鍵參數

定義剪切高度一般為焊球高度的25%

2、JESD22-B109

焊球拉脫測試標準

規范夾具設計、粘接方法和測試條件

3、MIL-STD-883 Method 2019.7

微電子器件鍵合強度測試方法

包含剪切和拉脫兩種測試程序

4IPC/JEDEC-9704

晶圓級封裝可靠性表征標準

特別針對WLP封裝的機械可靠性評估

 

三、測試儀器

1、Alpha W260推拉力測試機

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Alpha W260推拉力測試機是專為微電子封裝可靠性測試設計的高精度設備,特別適合紅外探測器芯片的測試需求:

 

1、設備特點

高精度:全量程采用自主研發的高精度數據采集系統,確保測試數據的準確性。

功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。

操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數據輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網絡系統。

2、多功能測試能力

支持拉力/剪切/推力測試

模塊化設計靈活配置

3、智能化操作

自動數據采集

SPC統計分析

一鍵報告生成

4、安全可靠設計

獨立安全限位

自動模組識別

防誤撞保護

5、夾具系統

多種規格的剪切工具(適用于不同尺寸焊球)

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鉤型拉力夾具

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定制化夾具解決方案

 

image.png 

2、KZ-68SC-05XY萬能材料試驗機

搭配定制夾具,進行焊球垂直拉拔測試

image.png 

四、測試流程

1. 樣品準備階段

樣品固定:使用真空吸附或專用夾具將樣品固定在測試平臺

光學對位:通過顯微鏡觀察系統定位待測焊球

高度測量:采用激光或光學方式測量焊球高度

2. 剪切測試流程

設置剪切工具與基板間距(通常為焊球高度的25%

設定測試速度(通常為100-500μm/s

選擇剪切方向(通常平行于芯片邊緣)

執行剪切測試,記錄峰值力和位移曲線

采集失效后圖像,分析斷裂面特征

3. 拉脫測試流程

image.png 

(示意圖)

選擇合適的上拉夾具(鉤狀或粘接型)

定位夾具與焊球中心對準

設定拉伸速度和最大行程

執行拉脫測試,記錄最大拉力

檢查斷裂面,判斷失效位置

4. 數據分析階段

統計處理測試數據,計算平均值和標準差

分析力-位移曲線特征

分類統計失效模式比例

生成測試報告,包括:

原始測試數據

統計結果

典型失效圖片

工藝改進建議

 

五、應用案例

300mm硅基WLP產品在可靠性測試中出現早期失效,采用Alpha W260進行系統分析:

1、問題現象

溫度循環測試后部分器件功能失效

初步懷疑焊球界面可靠性問題

2、分析過程

選取正常和失效區域樣品各20

進行剪切力測試(參數:剪切高度30μm,速度200μm/s

結果顯示失效區域平均剪切力下降約35%

斷裂面分析顯示界面失效比例從15%增至65%

3、根本原因

UBM(Under Bump Metallization)層厚度不均

電鍍工藝波動導致局部結合力不足

4、改進措施

優化UBM電鍍工藝參數

增加過程監控點

改進后測試顯示剪切力一致性提高40%


以上就是小編介紹的有關于硅基WLP封裝失效分析的相關內容了,希望可以給大家帶來幫助。如果您還對硅基WLP封裝失效分析方法、測試報告和測試項目,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關注我們,也可以給我們私信和留言?!究茰蕼y控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。

 


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