泰勒·霍普森（Taylor Hobson）作為精密測量領域者，開發了一系列高精度測針，以滿足不同工業應用中的復雜測量需求。其中，PK-01小孔測針專為端條件下的精密測量而設計，特別適用于測量小孔、溝槽以及狹窄或難以接觸的表面。

PK-01小孔測針主要特點：

超細測針端：提供測針半徑低至 2μm 的版本，能夠深入微小孔洞和狹縫，實現納米級精度測量。

深孔測量能力：具備測量深達70mm的孔深能力，適用于深孔粗糙度或輪廓檢測。

靈活的測量配置：

配備50mm長測針升降裝置，便于調節測針位置。

支持直角附件，可在空間受限的環境中進行橫向或垂直測量。

測針支持翻轉向上測量，適應倒置或復雜幾何表面的檢測需求。

穩定支撐系統：采用防滑V型腳架設計，確保儀器在光滑或彎曲表面上依然保持穩定，無需額外夾具或昂貴的支撐工裝。

全表面適應性：可在任意表面和不同高度進行測量，極大提升了現場檢測的靈活性和效率。

標準配置包含：

顯示單元

112-1502 標準測針

測針連接線

多刻線樣板（用于校準和驗證）

測針提升機構

USB接口充電器

使用手冊

USB通訊電纜

儀器箱（便于攜帶和保護設備