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微分干涉金相顯微鏡（DifferentialInterferenceContrastMicroscopy,DIC）是一種常用的光學顯微鏡技術，用于觀察透明或半透明樣品的高對比度圖像。其成像原理基于光學干涉和差分干涉技術。以下是簡要的成像原理：
偏振光源：DIC顯微鏡使用偏振光源，通常是通過將偏振光束分成兩個偏振方向相互垂直的部分。這兩個偏振光束分別被稱為參考光和樣品光。
光束分離：在DIC顯微鏡中，樣品光和參考光的光程差被精心調節，以便在樣品中形成相位差。這可以通過DIC裝置中的一系列光學元件，如偏振分束器、偏振片和波片等來實現。
相位差引入：樣品中的不同部分會引起光程的微小差異，從而產生相位差。這些微小的相位差可能是由于樣品的形狀、厚度、折射率或光密度的微小變化引起的。
偏振光相干重合：經過樣品后，樣品光和參考光重新相遇并在目標處相干重合。由于樣品中的相位差引起的光程差，兩束光會發生干涉，產生明暗相間的干涉條紋。
差分干涉圖像形成：通過DIC顯微鏡的物鏡和物鏡背焦平面處的偏振分束器，將干涉圖像投射到目鏡中。在目鏡中觀察到的圖像是樣品的差分干涉圖像，其中明暗條紋反映了樣品中的相位差。
增強對比度：由于DIC顯微鏡能夠利用樣品中的微小相位差來形成圖像，因此它對透明或半透明樣品的成像具有很高的對比度和分辨率。這種技術對于觀察細胞、活體組織等樣品非常有用。
綜上所述，微分干涉金相顯微鏡通過利用樣品中的微小相位差來形成高對比度的圖像，從而實現對透明或半透明樣品的觀察和分析。
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