1.選用與被測物的資料、聲速及曲率一樣的兩個規范試塊，其中一個試塊的厚度等于或略高于測量范疇的下限，另一個試塊的厚度盡可能接近測量范疇的上限，履行二點校準可以提升測量精度.

2. 超聲波測厚儀履行二點校準之前應先關掉zui小值捕捉性能。

操作如下：選用性能菜單存儲控制中的刪除校準數據功然后將二點校準功能關上。

3.超聲波測厚儀校準前一定要刪除以前的校準數據

操作如下：選用性能菜單存儲控制中的刪除校準數據功然后將二點校準功能關上

4.打開二點校準功能。

5.按鍵前往到主顯示界面。

屏幕提示校準薄片ThinCalibration。

然后按鍵屏幕提示校準厚片ThickCalibration.

6. 超聲波測厚儀在測量厚度的狀況下按進入兩點校準方式，

屏幕提示校準薄片ThinCalibration。

7.測量薄片。用或調整測量值到規范值。

然后按鍵屏幕提示校準厚片ThickCalibration.

8.測量厚片。用或調整測量值到標準值。

9. 超聲波測厚儀按鍵兩點校準好了，即可履行測量形態。

注意：測量管材時，由于聲阻抗的相配和耦合的情況會影響測量誤差，為了zhun確測量管材的厚度，在測量管材時咱們盡量選用與被測物的材質、聲速及曲率一樣的兩個規范試塊履行二點校準。