有色金屬材料分析儀分析方法歸納:

有色金屬狹義上指的是鐵、錳、鉻以外的所有金屬，廣義上還包括這些金屬的合金。一般有色金屬分為輕金屬，重金屬，貴金屬和稀有金屬，硅、硼、硒、碲、砷這些介于金屬和非金屬之間的元素，一般工業生產上也作為半金屬被納入有色金屬的范疇內。分析有色金屬的主要方法有原子光譜法，X射線熒光法，掃描隧道分析法，原子質譜法和熱重量法。
原子光譜法包括發射光譜法（AES），吸收光譜法（AAS）和熒光光譜法；可以進行定性和定量分析，分析速度快，檢出限低，選擇性好。常用于分析銣、銫等堿金屬和鎵、銦等稀散金屬，也可以分析半金屬，但靈敏度較低。發射光譜法的精度主要受光源影響，常見的直讀光譜儀以火花或者電弧作為激勵源，可以對鐵基、銅基、鈦基、鎂基等不同合金成分分析，具有多元素同時檢測的能力，應用在廣泛應用在冶金、鑄造、金屬加工、機械制造等領域。的儀器使用等離子體電感耦合（ICP）光源，可以產生10000K高溫，具有*的靈敏度和檢出限，多用于非金屬元素分析和痕量范圍的定量分析。吸收光譜儀和熒光光度法主要精度受原子化器影響，主要有火焰原子化器和石墨爐原子化器。其中以火焰原子化器重現性好，而石墨爐原子化器的檢出限更低。吸收光譜法對元素的選擇性好，譜線干擾少。
X射線熒光法是種重要的無損分析方法，可用于動態過程的分析。其再現性好，散射線本底強度小，分析靈敏度高。跟原子光譜法相比，X射線熒光法受基體的影響更大，可以為表面和微區分析，分析輕元素時受散射和熒光效率的影響檢出限會提高。根據分光原理的不同，X射線熒光光譜儀分為波長色散型和能量色散型兩種。前者主要用于實驗室定量分析。后者無需分光系統，檢測器可以緊挨樣品進行原位分析，不存在高次衍射譜線干擾；可以一次同時測定絕大部分金屬元素含量，非常便于現場做定性判斷。隨著X射線管制備技術，半導體探測技術和計算機技術的改進，便攜式X射線光譜儀在合金材料鑒別、廢舊金屬回收、礦石勘探、品位控制、珠寶鑒別、環境和土壤中重金屬檢測等領域都有極廣泛應用。
掃描隧道顯微法可以對物質本面進行原子級別的分辨，通常還配合電子束探針，進行光電子能譜和俄歇電子能譜分析，可以對表面電子分布和能級結構進行分析，多用于特殊合金的表面相和催化過程的研究。原子質譜法的光源和發射光譜法相同，不僅可以用于超痕量分析，還可以進行同位素測量，具有zui高的靈敏度和zui低的檢出限。熱重分析可以對易分解組分和灰分含量進行測定，也用于研究高溫下物理化學反應過程。