微分干涉顯微鏡(DIC)通過偏振光干涉技術，將樣品表面微小高度差異轉化為光程差，實現高對比度成像。
微分干涉顯微鏡是一種利用相干光干涉現象進行高分辨率成像的顯微鏡技術。它通過將樣品表面形貌的變化轉化為光程差，利用位置敏感探測器檢測光波前的強度變化，并通過數字信號處理得到樣品表面的高度變化。DIC顯微鏡能夠以高分辨率和充足對比度觀察未染色的生物樣本，甚至產生出浮雕效果的圖像。
工作原理
DIC顯微鏡的工作原理基于相干光干涉現象。它利用偏振光在樣本內產生的不同相移，通過干涉效應增強結構的對比度。具體來說，光源發出的光線經過偏振片后變為線偏振光，進入微分干涉棱鏡后分為兩個垂直偏振平面的線性偏振光。這兩束光分別照射到樣本的不同區域，由于樣本厚度的差異導致兩束光的相位差不同，在目鏡中形成干涉圖樣，從而反映出樣本表面的形貌信息。
DIC顯微鏡在多個領域有廣泛應用：
生物顯微學 ：用于觀察細胞形態和結構，以及生物分子和蛋白質的形態和互作。它還可以用于細胞和組織的三維成像和動態觀察。
材料科學 ：用于研究材料的表面形貌和納米結構，如微型元件、納米粒子、生物材料等。
半導體工業 ：通過非接觸測量方式監測半導體芯片的表面精度，提高生產過程的可靠性和效率。
PCB質量檢測 ：檢測PCB表面和內部的細微缺陷，如開路、短路、裂紋等。
精密機械制造 ：用于精密機械零件的表面質量檢測和加工過程監控。
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