HORIBA堀場納米拉曼光譜儀高測量

這是一套基于業界掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統。

XploRA Nano系統，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經得到證實了的經濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統，它幫助大家實現TERS成像。

HORIBA堀場納米拉曼光譜儀高測量多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行

簡單易用

全自動操作，在幾分鐘內即可開始測量，而不是幾小時！

真正的共聚焦

高空間分辨率，自動樣品臺，全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區域和針尖增強光譜測量（TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力，多光柵自動切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發光分析。

高空間分辨率

針尖增強的納米級光譜分辨率（優于10nm）

豐富的光學光譜（拉曼和光致發光）

多技術/多環境

結合TERS/TEPL化學成像的多模式SPM技術包括AFM、導電和電學模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學環境。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行控制，SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。

堅固性/穩定性

高共振頻率AFM掃描器，遠離噪音干擾！高性能表現，無需主動隔振系統。

各類日系工業品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達