Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。
Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

可對應從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定，可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態光散射法可測量微流變學

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數，可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量

● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)

非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

● 新型功能材料領域

- 燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等

● 陶瓷/著色材料工業領域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

● 半導體領域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

● 聚合物/化工領域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫藥/工業）

- 聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

● 制藥/食品工業領域 　

- 乳液（食品/香料/醫療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測

- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測

各類日系工業品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達