HITACHI日立分光光度計最高靈敏度的檢測系統(tǒng)
使用F-7100 可檢測低至1×10-13mol/L（亞皮摩爾） 量級的熒光素。從線性曲線圖可知，即使在超微量區(qū)域，也能獲得很好的線性關(guān)系。

HITACHI日立分光光度計長壽命光源
F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源，使得光源亮度提升，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減輕燈泡更換等作業(yè)負擔。由如上右圖可知，F(xiàn)-7100性能優(yōu)異，即使氙燈使用接近2500h，也能夠維持較高的靈敏度。

高速掃描，速度可達 60,000 nm/min ‐三維時間掃描熒光光譜追蹤監(jiān)控化學反應過程

傳統(tǒng)熒光光譜儀很難實現(xiàn)化學反應監(jiān)控，但F-7100超高速的掃描速度可使這種測量輕松進行。在本例中，熒光光譜測量追蹤2秒時間間隔內(nèi)，煤油里的異構(gòu)化過程，并以三維時間掃描光譜圖顯示出來。

之前，在1分鐘內(nèi)發(fā)生的快速化學反應只能采用固定波長的方法進行監(jiān)控。因為F-7100的快速掃描能力，在1秒之內(nèi)可完成整個波長范圍的測量，所以它能夠追蹤如此快速的反應過程。

HITACHI日立是一家全球性的日立公司，通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù)，這些解決方案使生產(chǎn)和開發(fā)過程更加高效、自動化和綠色，以確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和合規(guī)性。我們提供實驗室級和強大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達