日本Otsuka大塚電子株式會社公司主營光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測量設備
致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發與生產的測量與分析設備。
我們的產品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業，產品包括有液晶和有機EL顯示行業的光學特性評估與檢測設備；用于測量半導體晶圓和薄膜化學品厚度的設備；以及評估墨水、研磨劑、醫藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測量)設備，這些設備均應用了我們的“光”技術。
在日本，我們的產品擁有眾多交付實績。為提供**的售前和售后支持，我們設立了技術和維護中心，努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關懷和價值的服務。
我們致力于不斷提升產品價值和支持服務，做到讓客戶能主動向他人推薦大塚電子的產品。
我們是大塚集團的一員，繼承了集團的企業理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide」
以及大塚集團歷代的3個思想，即「流汗悟道」「實證」「創造性」，并以此行動。我們推出**產品，開展業務，為社會做出貢獻。
對于那些挑戰可能性邊界的人來說，天空是無限的。超越它，就會有一個全新的前沿世界。
利用大塚電子的技術“光”的力量，為業界提供解決方案是我們的使命。
Otsuka-people creating new products for better health worldwide
傳承大塚的“實證與創造”精神，時刻為了實踐“因為是大塚所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。
大塚電子，通過革新的且富有創造性的產品(設備)服務，在「健康和生活」的領域，不斷地為人民的生活做著貢獻。
日本Otsuka大塚電子株式會社公司主營光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測量設備
ZETA電位·粒徑測試系統·ELSZneoSE
ZETA電位·粒徑·分子量測系統 ELSZ-2000ZS
ZETA電位·粒徑·分子量·ELSZ-2000ZS
多樣品nano粒子徑測量系統(帶自動取樣器)nanoSAQLA AS50
ZETA電位·粒徑測試系統·ELSEneoSE
多樣品納米粒子徑測試系統·nanoSAQLA
ZETA電位·粒徑·分子量測試系統·ELSZneo
日本Otsuka大塚電子膜厚 · 厚度評估儀器
功能材料評估儀器
日本Otsuka大塚電子半導體評估儀器
FPD相關評估儀器
光源照明評價儀器
熒光評估儀器
Smart膜厚儀
顯微分光膜厚儀 OPTM series
日本Otsuka大塚電子膜厚量測儀 FE-300
嵌入式膜厚檢測儀
線掃描膜厚儀【在線型】
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
線掃描膜厚儀【離線型】
光波動場三次元顯微鏡
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
MCPD series 嵌入式膜厚測試型
OPTM series 嵌入型
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800
Load Port對應膜厚測量系統 GS-300
嵌入式膜厚檢測儀
顯微分光膜厚儀 OPTM series
日本Otsuka大塚電子株式會社公司主營光譜儀、液晶Cell Gap特性、光刻膠及彩色濾光片色度、半導體膜厚、Zeta電位及納米粒徑、相位差(延遲)在線薄膜膜厚及透過率等測量設備,提供包括納米粒度儀,粒徑分析儀,zeta電位儀,zeta電位分析儀,膜厚測量儀,3D顯微鏡,膜厚分析儀,反射式膜厚儀,膜厚檢測儀,晶圓檢測設備,偏光片檢測,光纖光譜儀,
