原位樣品桿是一種用于電子顯微鏡（如透射電子顯微鏡 TEM 或掃描電子顯微鏡 SEM）的特殊樣品桿，能夠在觀察樣品的同時，對樣品施加外部刺激（如加熱、冷卻、拉伸、壓縮、電場、磁場、氣體或液體環境等），以實時研究材料在不同條件下的動態行為和結構變化。這種技術為材料科學、納米技術、催化、能源等領域的研究提供了強大的工具。
技術優勢
◆ 適配性：適配ThermoFisher/JEOL/Hitachi等品牌各類型電鏡
◆ 雙軸傾轉：α/β雙軸傾轉
◆ 優異冷凍功能：溫度<-170℃
主要應用
◆ 低溫原位相變
◆ 凝聚態物理
◆ 超導
◆ 電子束敏感材料
◆ 磁性材料
樣品桿Tip雙傾實機圖
冷凍樣品桿實物圖
配套分子泵抽氣站
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