產(chǎn)品介紹：

NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒子和顆粒的粒度，采用電泳光散射技術(shù)測(cè)定顆粒Zeta電位和電位分布，同時(shí)兼有靜態(tài)光散射技術(shù)用于測(cè)定蛋白質(zhì)與聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合馬爾文帕納科恒流模式下的M3-PALS快慢場(chǎng)混合相位檢測(cè)分析技術(shù)，提升了儀器的電位分析性能，升級(jí)了兼容多種樣品池 (選配) 功能，可分析樣品濃度和粒度范圍也得到了明顯提升。

與此同時(shí)，儀器廣泛采用全球化供應(yīng)鏈的優(yōu)質(zhì)光電部件及Scrum軟件迭代升級(jí)開發(fā)模式，使其具有高品質(zhì)并能隨用戶需求變化升級(jí)管理和報(bào)表功能。進(jìn)口雪崩式光電二極管(APD)檢測(cè)器、He-Ne氣體激光器光源和高性能相關(guān)器等優(yōu)質(zhì)硬件，加上精確的內(nèi)部溫控裝置、密閉光纖光路設(shè)計(jì)以及優(yōu)良的軟件算法，共同保障了數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性、準(zhǔn)確性和靈敏度。NS-90Z Plus支持SOP標(biāo)準(zhǔn)化操作，具有兼容CFDA GMP《計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)和確認(rèn)與驗(yàn)證》要求的審計(jì)、權(quán)限管理及電子簽名功能以及具有測(cè)試數(shù)據(jù)質(zhì)量智能反饋和優(yōu)化建議，方便用戶使用。

工作原理：

NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀在一種緊湊型儀器中集成了三種測(cè)試技術(shù)：

動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)

NS-90Z Plus 納米粒度及電位分析儀使用經(jīng)典的90°角動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技術(shù)來測(cè)量粒子和顆粒的粒度。該技術(shù)利用光電檢測(cè)器測(cè)量樣品中粒子由布朗運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的散射光強(qiáng)漲落信號(hào)，通過數(shù)字相關(guān)器計(jì)算得到相關(guān)函數(shù)(Correlation Function)以分析顆粒的擴(kuò)散速率，再以斯托克斯-愛因斯坦(Stokes-Einstein)方程計(jì)算出顆粒的粒徑與分布。本技術(shù)所測(cè)量的粒徑為流體動(dòng)力學(xué)等效直徑，通過相同擴(kuò)散速率的硬球進(jìn)行等效直徑計(jì)算而得。動(dòng)態(tài)光散射法也稱為光子相關(guān)光譜法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。

電泳光散射技術(shù)

NS-90Z Plus使用電泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技術(shù)測(cè)量顆粒滑移層的Zeta電位。顆粒在人為施加的電場(chǎng)作用下做電泳運(yùn)動(dòng)，其電泳運(yùn)動(dòng)速率和Zeta電位直接相關(guān)，以亨利方程進(jìn)行表述。NS-90Z Plus使用恒流模式下的快慢場(chǎng)混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解決了毛細(xì)管電滲對(duì)測(cè)試的影響，并且在一次測(cè)試過程中同時(shí)得到Zeta電位平均值和電位分布曲線。電泳光散射技術(shù)可測(cè)量最大粒徑至100μm左右的樣品的Zeta電位 (取決于樣品屬性及制備) 。

靜態(tài)光散射技術(shù)

NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀使用靜態(tài)光散射(Static Light Scattering/SLS) 技術(shù)以非侵入式表征溶液及膠體中的蛋白質(zhì)單體、聚集體或聚合物等粒子的摩爾質(zhì)量，即分子量。在德拜法分子量計(jì)算的描述中，粒子產(chǎn)生的散射光強(qiáng)度正比于重均分子量的平方以及粒子濃度。通過使用德拜法測(cè)量一組濃度梯度的樣品靜態(tài)散射光強(qiáng)度，可以計(jì)算蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。與動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)不同的是，靜態(tài)光散射技術(shù)是測(cè)量一段時(shí)間內(nèi)散射光的平均強(qiáng)度。分子量單位為 Da(Dalton) 或g/mol。

用途：

NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀是一款高性價(jià)比的納米顆粒粒徑和納微米顆粒Zeta電位的表征儀器，適用于對(duì)粒度和電位分布表征有較高靈敏度需求的材料分析，以及需要與使用90°散射角粒徑測(cè)試系統(tǒng)結(jié)果相同的應(yīng)用。該儀器適用于對(duì)分子、蛋白質(zhì)、聚合物、膠體、乳液、懸浮液及各種復(fù)雜配方制劑體系等樣品的測(cè)試分析。  

典型應(yīng)用：

• 膠體和乳液表征

• 藥物分散體系、乳液和疫苗等制劑配方和工藝開發(fā)

• 脂質(zhì)體和囊泡的開發(fā)

•  蛋白質(zhì)及其聚集體的評(píng)價(jià)

• 電極漿料及助劑的粒徑、分散和穩(wěn)定性表征

• 涂覆材料分散性能預(yù)測(cè)

• 納米金等高電導(dǎo)率溶膠的改性

• 墨水、碳粉、染料和顏料性能改進(jìn)

• 優(yōu)化水處理中絮凝劑的使用

•  膠體、乳液、漿料穩(wěn)定性評(píng)價(jià)

•  確定多種復(fù)雜制劑的混合、均質(zhì)等加工工藝參數(shù)