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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 便攜式,手持式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 1萬-5萬 | 應用領域 | 石油,能源,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
高效精品德國OPTRIS工業自主短波紅外熱像儀
產品介紹
高效精品德國OPTRIS工業自主短波紅外熱像儀
高效精品德國OPTRIS工業自主短波紅外熱像儀
Optris Xi 1M是一款短紅外熱像儀，擅長對近距離的物體進行非接觸熱成像。它能夠精確測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導體的表面溫度。憑借自主熱測量能力和電動波附近功能，該熱像儀在工業環境中提供了可靠性和便利性，耗費額外的硬件。它配備了連接、USB接口，以及模擬和數字過程接口，實現了與控制系統和機械設備的無縫集成。
工業廢水短波紅外熱像儀
寬測量范圍從 450°C 到 1800°C，耗子范圍
尺寸小且堅固，配備電動對接
高動態CMOS分辨率，分辨率為396 x 300像素
自主運行，帶自動熱點發現和直接模擬或報警輸出，并具有多種現場交互通信選項
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，在非接觸熱推理領域提供了創新、經濟實惠和高精度的性能，專門用于測量適應的工件表面溫度。設計在短波紅外范圍內工作（波長：0.85 – 1.1 μm），這款前視紅外熱像儀專為吸收熱鋼、鐵、面、銅、錫、碳、陶瓷和半導體的精確表面溫度分析而設計。為了滿足各行業的嚴格要求，Optris Xi 1M提供了寬廣的高溫測量范圍、精度和可定制的視場。
許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內顯示出相當且相對恒定的發射率，而這些材料在長波紅外光譜范圍內的低發射率會導致測量結果的不穩定和不可靠。短波Xi 1M紅外熱像儀的光譜范圍與大多數金屬材料的發射率相匹配，從而簡化了遠程溫度測量。此外，根據普朗克輻射氣候，在短波范圍內發射的紅外輻射顯著增加，因此線性發射率問題對短波溫度測量結果的重復性影響較小。因此，在考慮到上述的溫度測量范圍時，對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應謹慎使用短波長。
這些紅外熱像儀能夠自主尋找熱熱點，增強了在各種監控和檢查任務中的實用性和效率。Xi 1M紅外熱像儀專為那些具有挑戰性的工業應用設計和制造，在精度、準確性和重復性方面優于長波紅外熱像儀。
Xi 1M紅外熱像儀具有中等分辨率的熱成像能力（396 x 300像素），能夠在450°C至1800°C工作的廣泛溫度范圍內出色地捕捉溫度數據，吸收子范圍。其距離與點大小分別確保即使在相當遠的距離拍攝圖像時也能準確測量溫度。這種偏差超越了現代高溫計的光學性能，從而能夠詳細監控遠距離目標。此外，電動遙控功能允許用戶遠程精確調整其表面溫度測量目標的焦點。
Optris Xi 1M工業級和加固的設計確保了在女性工業環境中的可靠性，使其成為工藝工程師在制造過程中安裝精確的紅外溫度測量的工具。其結構緊湊但耐用的防水的設計使該紅外熱像儀非常適合固定或掛載設置，保證在各種工業制造環境中的耐用性。
Optris Xi 1M 負載作為主要接口，能夠輕松連接到計算機，幀率 20 Hz。USB 接口同樣次要選項，幀率 20 Hz，用于 132 x 100 像素的子圖像。其智能操作消除了廣泛的軟件編碼需求，從而能夠輕松集成到控制回路中。此外，這款紅外熱像儀具有自動點替換、直接模擬輸出（0/4-20mA）以及與工業自動化現場總線系統（Ethernet/IP、Modbus） TCP/IP、RS485 或 Profinet）兼容的功能，使其成為原始設備制造商（OEM）使用的解決方案。Xi 1M 的自主操作模式以 20 Hz 運行，用于 132 x 100 像素的子圖像，進一步簡化了其在機械設備中的集成。
此外，Optris Xi 1M通過PIX Connect軟件許可證提供了更復雜的軟件功能，如線掃描或圖像合并。PIX Connect尋求擁有強大的軟件平臺用于熱圖像處理和溫度數據收集的經濟型紅外熱像儀的研究人員表示是駕駛員的。開發工具包也有助于開發特定應用軟件解決方案的集成商使用。
這些創新功能增強了紅外熱像儀在各類應用中提供準確可靠的表面溫度測量，從制造過程中的質量控制到狀態監測以及研發活動。Xi 1M的多功能性確保了在各種環境工業中的無縫集成，增強了熱像儀對特定需求的能力。憑借其優良的功能，Optris Xi 1M為固定安裝紅外配備了新的標準，提供了其經濟且強大的解決方案，適用于多種應用工業。
同時，Xi 1M紅外熱象儀兼容廣泛地適用于IQ環境的配件。這些配件包括水冷外殼，將工作溫度范圍擴展至250度。空氣凈化裝置保持鏡頭潔凈，即使多塵中也能保證不間斷的溫度測量。兼容配件的組合還包括機械安裝選項、電氣接口和連接，所有這些都以引流的價格提供。
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