目錄:上海首立實業有限公司>>王子計測OSI>> PAM-UHR100王子計測超高位相差測定裝置
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 文體,建材/家具,電子/電池,包裝/造紙/印刷,綜合 |
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王子計測超高位相差測定裝置
PAM-UHR100
特點
① 1nm寬測量范圍
② 高重復精度±1nm
③ 良好的可操作性
④ 軟件
測定對象：
位相差薄膜，塑料，偏振片
光盤
液晶組件
磁帶用膠片
收縮薄膜
其他一般用途膠片
用途：
光學功能膠片的研究開發，質量管理
延伸膠片的定向評價(三維折射率，表面定向度)
包裝膜的熱收縮、撕脫性等的評價
液晶元件的雙絞線波長色散特性評估
光學器件的透射橢圓偏振光的評價
王子計測PAM-UHR100超高位相差測定裝置
技術參數
仕様 | 內容 |
測定対象 | 透明な延伸フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等） |
測定項目 | 位相差、配向角、複屈折 （位相差範囲 約８００～２００００ｎｍ） |
試料寸法 | □４０ｍｍ 厚み３ｍｍ以下 |
システム構成 | 測定裝置本體、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP） |
溫濕度條件 | 10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと） |
電源 | AC100V±10％、50／60Hz |
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