正反射P偏光型標準在線膜厚計!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進行測量。

如果把紅外線照射到被測物上,就會發生與膜厚相對應的特定波長的紅外線吸收現象。從透過光或鏡面金屬板的正反射光來掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關系式,可以測量膜厚。

并且,采用本公司獨自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內部多重反射引起的誤差,提供紅外線測厚儀的硬件。

• 節省空間（在線）
  因為是小型傳感器頭，故不受放置空間約束。只需占用現有生產線上的狹小空間。
• 瞬間測量
  無需任何前處理。且可實現非破壞、非接觸的瞬間測量。
• 廣泛的適應性
  通過由zui大6波長組成的濾光器,可以測量各種材質的膜厚及水分。
• 出眾的測量精度
  通過采用本公司獨自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩定的測量結果。
• 擁有值得信賴的長期穩定性
  根據周圍環境和裝置的變動,采用3波長測光方式確保長期性的精度。

用途例

• LCD用光學薄膜測厚
• 聚合電池的隔離板測厚
• 彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測厚
• 鋁箔上的乙烯涂層測厚
• 防霧加工薄膜的防霧劑涂層測厚
• 復合膜的粘合劑涂層測厚
• 收縮標簽的脫膠檢查等
• 鋼板上的有機附著量測量

規格