產(chǎn)品介紹：

HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規(guī)級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的密封性和老化性能。

產(chǎn)品別名：

UHAST, 高加速穩(wěn)態(tài)濕熱應力試驗箱, 高壓蒸汽試驗箱, 不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱箱,BHAST。

一、滿足試驗標準：

AEC Q101（車規(guī)級芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

二、應用領域：

PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……

HAST高壓加速壽命老化試驗箱特點：

1.內(nèi)膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

2.產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼炓约帮柡透邏赫羝ㄕ糁螅┰囼灐?/span>

3.產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼灐?/span>