測試原理

通過軟件程序控制，讓射線發生路產生適合的K射線去激發則試薄膜材料中的Sl或者其他元素，被X射線激發后變為不穩定態,高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能里被探則器接收,因每個元素都有自已特定

的能量特征線,通過探測器的識別，計算機軟件的計算,即可準確識別該元素,并計算出含量。

儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到125eV,能分辨AI(鋁)元素和Si(硅)元素

技術特點

，測試采用X射線熒光光譜原理，測試過程無需耗材配置高清液晶顯示器，測試過程和測試結果一目了然光管垂直照射，硅元素性能得到更強激發設備集成多個usb接口，數據和通訊傳輸滿足多種要求測試下限好，可準確測量0.01g/m2的涂硅量空氣光路內部環境得到顯著優化，大氣環境-樣可以直接測試采用大面積硅漂移探測器，測試結果極其準確一鍵測試/操作簡單智能，測試過程使用時間更短，結果更準確