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產品簡介
詳細介紹
TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿
TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用， 有效地使原子 探針和透射電鏡檢測結合在一起， 使樣品的觀察和分析更加方便。 TEM-APT Holder 電鏡連用三維 原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進行觀察， 可以 360°旋轉樣品， 透射電鏡 配套的樣品桿往往功能單一， 這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要， 適合大專院校及科研院所 中與透射電鏡配套使用。進口樣品桿往往價格不菲， 本公司的樣品桿不僅功能齊全且結實耐用， 價格也遠低于進口設備的價格。
| 產品型號 | TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿 |
| 主要特點 | 1 、TEM-APT 樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先 進的原子尺度表征手段。 2、三維原子探針的結果不是“可視”的，需要通過數據重構再現。透射電鏡能 提供“直接可視”的實驗結果，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的 單個原子尺度的成分信息。基于它們各自的優勢，我們開發了 3DAP-TEM 樣品 桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到 TEM 樣品桿上。 |
| 產品結構 |
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產品作用 | （1）在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區域，使樣品檢測工作效率增加； （2）通過大角度傾轉試樣，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為 3DAP 數據重構提供幫助 （3） TEM 觀察過后的試樣可以直接移到 APT 中繼續實驗。將 APT 結果與 TEM 圖像相結合，有助于優化重構參數，并使 3DAP 結果更具有可信度。 （4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。
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產品性能 | （1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。 （2）允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會因楔子缺失而造成信息損失。 （3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉移到 APT 機上進行進一步表征。 （4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。 |
