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Xradia Context microCT 顯微鏡技術參數：

特點：

高像素密度探測器（六百萬像素）使您能夠在完整的3D環境中解析精細細節，即使在相對較大的成像體積內也是如此。 或者使用小樣本幾何放大倍率，以識別和表征襯度和清晰度的微米級結構。快速的樣品安裝和校準，流程化的的采集工作流程，快速曝光時間和數據重建以及可選的自動加載器系統使Xradia Context成為高通量成像的利器，可滿足廣泛的3D成像和表征需求。

Xradia Context建立在經過時間考驗和備受推崇的Xradia技術之上，在系統穩定性、圖像質量和可用性三方面被反復證實可靠。用戶友好的Scout-and-Scan控制系統為您提供高效的工作流環境。使用Autoloader擴大已有系統，實現自動處理和多達14個樣品的順序掃描。還可以用來做4D研究以測量材料微觀結構在不同條件下的變化。