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供應簡介

當高強度光照射到物體上時（*1），會發生廷德爾現象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。
*1：半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等！
計測網 INTECS目視檢查 UIH-1C超亮照明裝置

詳細介紹

計測網 INTECS目視檢查 UIH-1C超亮照明裝置

品牌介紹：

點火監視裝置（TAM系列）、超高亮度照明裝置（UIH-1、UIH-2、UIH-3）、半導體晶片截面形狀測量裝置（WEMS、VSSW）等測量裝置制造現場。

垃圾坑點火監控裝置、超高亮度照明裝置

垃圾坑點火監測裝置

這是為了防止焚燒廠的垃圾坑（bunkas）發生火災而開發的紅外線監控裝置。通過與自動水炮聯動，可以實現高精度的自動瞄準水炮。

超亮燈光設備

這是一種非破壞性測量半導體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。您可以測量晶圓邊緣的尺寸、角度和半徑。

霧度檢查用照明裝置

本頁包含霧度檢查照明設備的說明以及產品和維修查詢的聯系信息。

晶片截面形狀測定裝置

這是一種非破壞性測量半導體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。可以測量晶圓邊緣尺寸、角度和半徑。

*1 為了保護燈泡，即使在主電源開關關閉的情況下

　　　，仍可通過風扇保持冷卻直至燈室內溫度降至約 40℃ 或更低的功能。

UIH-1C 外形尺寸 (PDF)

UIH-1C 使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列規格說明書 (PDF)

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