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產品介紹
池田屋商社!!SHIBUYA澀谷光學 分辨率圖表 IEEE-30P
池田屋商社!!SHIBUYA澀谷光學 分辨率圖表 IEEE-30P
該測試卡符合IEEE STD208-1995標準,用于評估各種光學設備的性能。
澀谷光學的分辨率測試卡采用合成石英制成,不易因溫度變化而老化。
我們提供正負兩種規格的標準產品,以滿足您的需求。.
型號 | IEEE-30P | IEEE-30N |
---|---|---|
材料 | 合成石英 | 合成石英 |
類型 | 陽性 | 負面類型 |
打印精度 | ±0.001毫米 | ±0.001毫米 |
尺寸 | 48×40mm(厚度1.5mm) | 48×40mm(厚度1.5mm) |
第一熱研 | 控制器 | c-58-2 |
AND愛安德 | 電子秤 | GX-4002A |
BSS | 測溫器 | BSS-802 |
SGK昭和技研 | 旋轉接頭 | 0C0827-25A |
AND愛安德 | 電子秤 | EK-1200I |
BSS | 測溫器 | BSS-802 |
品川 | 干式流量計 | DC-1C |
TSUBAKI椿本 | 滾輪 | PT40P8M25BF-A |
COSMOS新宇宙 | 氦氣濃度檢測測儀 | KD-12S |
COSMOS新宇宙 | 氦氣濃度檢測測儀 | KD-12S |
大菱 | 直尺標準器 | EB-1001 |
TSUBAKI椿本 | 扭力限制器 | MK08 |
TORAY | 氧氣分析儀 | LC-450A |
AZBIL | 電磁閥 | 363-301-00B2 AC-110V 50HZ |
第一熱研 | 氧氣分析儀 | c-58+30m |
TAKEX竹中 | 傳感器 | NA-T20R |
亨樂士 | 角度檢測器 | AC58/0017EK.72MCZ3F0 |
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