首頁>>深圳市錫成科學儀器有限公司>>產品展示>>輪廓/膜厚測量>>光學輪廓儀
白光干涉儀 參考價：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測量法，0.1nm臺階，采用TotalFocus 技術，全視場真彩色圖像。
三維光學輪廓儀 參考價：面議
多模組三維光學輪廓儀標配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學系統。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）源自AFM的光學杠桿技術，精確測量臺階高度及表面輪廓。
3