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當前位置：西凡儀器（深圳）有限公司>>硅油涂布量分析儀>> XRF-Z8紙上硅油干硅測試儀Z8測試元素含量密度
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥,綜合 |
XRF-Z8油涂布量分析儀是一款面向硅油涂層面密度檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于硅油涂布行業(yè)產品工藝及成本的管理。該產品既可以分析PET薄膜，還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。該產品同時支持選裝多位轉盤，裝好樣品后，可一次性檢測10個樣品位。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高。
產品特點
元素檢測范圍：鋁(13)～鈦(22)
分析范圍：0.01~50g/m2
檢測精度：±0.01 g/m2
檢測樣品：PET離型膜/各類離型紙
整張A4紙大小樣品直接測試，不用裁剪取樣
1張薄膜或紙張多點連續(xù)測試，測試效率高
支持選裝配件：自動轉盤檢測（10位）
核心部件
探測器：美國AMPTEK定制Fast-SDD
探測器面積：25mm2
分辨率：125±5eV
內置工控電腦：Intel i5 12核工控電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：20KV/1mA
窗口材料：鈹
靶材：銀
焦點：Φ1.0mm
準直器：Φ8mm
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