聚焦離子束掃描電子顯微鏡（Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope，簡稱FIB-SEM）是一種復合分析儀器，它結合了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）的功能。
賽默飛 Helios 5 聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。
1、它集成了SEM鏡筒（用于超高分辨率成像和先進的分析能力）、等離子FIB鏡筒（可在所有操作條件下實現最佳性能）以及飛秒激光，可實現以從前無法通過商業化產品獲得的速率進行原位材料刻蝕。
2、它加快了學術和工業用戶的研究步伐，使他們能夠在幾分鐘之內完成材料的表征，而之前需要花費的幾天的時間。研究人員不僅可以針對定點的毫米大小的截面在納米級分辨率下快速、準確地成像且更具有統計意義，還可以設置大體積的3D分析，使其在一夜之間自動完成，從而使顯微鏡空出時間來用于其他用途。
3、它使研究人員可以獲得準確的大體積3D和次表面數據，其速度比典型的鎵離子源聚焦離子束（Ga-FIB）快15,000倍。對于許多材料，聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以在不到5分鐘的時間內刻蝕數百微米的大截面。借助激光和等離子FIB的組合，現在可以進行連續截面層析成像，并且當與EDS和EBSD檢測器結合使用時，可以擴展到毫米級的3D元素和晶粒取向分析。
4、它使學術和工業實驗室可以輕松處理具有挑戰性的非導電，對空氣敏感和對離子束敏感的材料。他們還可以加快故障分析的速度，同時可以快速訪問傳統FIB通常無法訪問的埋沒的下層。FIB-SEM可用于分析各種材料，包括金屬，電池，玻璃，陶瓷，涂層，聚合物，生物材料和石墨。
5、它快速，簡便，精確的高質量樣品制備，適用于掃描透射電子顯微鏡（S / TEM）和原子探針層析技術（APT）。
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