電子半導體調試控溫高低溫機組

電子半導體調試控溫高低溫機組

電子半導體調試控溫高低溫機組

芯片高低溫測試機應用說明

　　無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業測試所推出的，那么，這類芯片高低溫測試機適用于那些行業呢？

　　經過無錫冠亞的努力，其開發生產的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規模數字集成電路邏輯功能及靜態直流參數測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數采用300uS脈沖測試，并采用數據、圖形雙重顯示。用于普通、化、時間等各類電磁繼電器參數的測試，在觸點接觸電阻和時間參數的測試方面有良好的特性，被我國國軍標電磁繼電器生產線選用。

隨著集成電路電性測試技術及要求的提高，有些芯片產品內部集成了溫度傳感器，同時測試程序中加入了溫度測試條目來實時準確的監測在測芯片的實際溫度。即使沒有集成溫度傳感器，現在的精研測試恒溫器測試技術也可以通過測量某些與溫度變化線性相關的精密二管的電壓變化，通過一系列公式來計算出當前在測芯片的實際溫度。

　　精研測試恒溫器的發展是和半導體芯片行業發展息息相關的，面對芯片、半導體行業的飛速發展，精研測試恒溫器的發展前景也是很可觀的。（注：本來部分內容來百度學術相關論文，如果侵權，請及時聯系我們進行刪除，謝謝。）