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當前位置：無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司>>制冷加熱控溫系統>>制冷加熱循環裝置>> SUNDI -6A25冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環設備
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,石油,能源 |
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無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司致力于制冷加熱控溫系統、
超低溫冷凍機、
新能源汽車部件測試系統、
VOCs冷凝回收裝置、
加熱循環系統、
防爆電氣設備、
試驗設備、
工業超低溫冷凍室的研發、生產和銷售。
冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環設備
冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環設備
一、半導體高低溫測試設備背景
半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進行不同溫度段的溫度測試。
在元器件行業中，對各種半導體、芯片的要求比較高，特別需要測試在不同環境下元器件的性能狀況以及在封裝組裝生產下不同的溫度測試以及其他性能測試，以免在元器件這類的電子產品在進入生產之后實際投放市場面對各種不同尋常的環境導致電子元器件不可用。
二、半導體高低溫測試設備的作用
半導體高低溫測試設備在元器件、集成電路、模塊、PCB、裝配等應用上進行高低溫循環測試、高低溫溫度沖擊測試，失效分析等可靠性測試。除了半導體高低溫測試設備還可稱為熱流儀、冷熱氣流沖擊機、冷熱循環沖擊裝置、高低溫氣流循環系統等。
半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進行不同溫度段的溫度測試。
半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進行不同溫度段的溫度測試。
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