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當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀>>Surtronic DUO>> 泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
| 測量參數 | Ra:0.1μm～40μm(1μin-1600μin) Rz:0.1μm～199μm(1μin-7800μin) |
| 顯示單位 | μm/μin |
| 傳感器類型 | 壓電式 |
| 測量行程 | 5mm |
| 測量速度 | 2mm/sec |
| 傳感器接觸力 | 200mg |
| 整機尺寸 | 125×80×38 mm |
| 重量 | 200 gm |
| 儀器范圍 | 200μm |
| 分辨率 | 0.01μm |
| 精度 | Ra:讀數的±5% Rz:讀數的±5% |
| 測量方式 | 壓電式 |
| 探頭 | 鉆石,半徑為5μm |
| zui小孔徑 | 65mm |
| 電池壽命 | 約500小時或10,000次操作 |
泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
英國泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON型可分離式Surtronic Duo是一種便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數。這些參數 （如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸 LCD彩色屏幕上。新型Surtronic DUO使用大容量充電 電池，便于在所有環境和表面進行快速、輕松和的現場測量。 英國泰勒新型手持式粗糙度儀Surtronic DUO可測量多種粗糙度參數：Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku; Pa, Pz, Pp, Pv, Pt（ISO 4287標 準）。
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