菲希爾測厚儀X-RAY XUV 773

菲希爾測厚儀X-RAY XUV 773

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準直器的使用大幅提高了信號計數率，使儀器可以達到很小的重復精度和很低的測量下限。XUV非常適合測量很薄的鍍層和痕量分析。菲希爾x射線測厚儀

X-RAY XUV 773采用不同的準直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測量都在*佳的條件下完成。在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復雜的樣品。并且使得連續測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。X-RAY XUV 773儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發，也非常適合過程控制和實驗室使用。菲希爾x射線測厚儀

菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY

X-RAY XUV 773一個軟件實現鍍層厚度測量和材料分析兩個功能

擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置

基于基本參數分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現精確的測量結果

X-RAY XUV 773距離控制測量（DCM）：無需移動軸即可保持與不規則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風險

菲希爾x射線測厚儀測量質量：我們的儀器可以判斷您的測量質量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區的合作伙伴,與全系列的產品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設備,努力為客戶解決快速分析的測量技術挑戰,聯合提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測試儀根據磁感應方法測量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識別其轉化形式馬氏體。儀器符合Basler標準和DIN 32514-1標準，適合于現場檢測，可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產品內的鐵素體含量。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測試儀用于化工設備和石油加工廠通常要承受高溫、高壓，同時要耐腐蝕。外部環境要求所用鋼 材即使在高溫下也要有足夠的耐腐蝕和耐酸性能。如果鐵素體含量太低，焊縫受熱后容易產生裂紋；如果鐵素體含量太高，焊縫將喪失韌性和延展性。對于雙相鋼，如果鐵素體含量太低，焊縫受到張力或發生振動時容易破裂。