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菲希爾設備X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，菲希爾儀器配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾儀器是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。菲希爾設備其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。
XDV-SDD設計為界面友好的臺式測量儀器。菲希爾設備它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點位置進行精確微調。

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