目錄:安徽澤攸科技有限公司>>掃描電鏡原位樣品臺(tái)>>納米力學(xué)臺(tái)>> NI-100SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2025-05-08 14:26:22瀏覽次數(shù)：467評(píng)價(jià)
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SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品特色
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 加熱，光學(xué)等多種模塊可選
▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學(xué)測(cè)量
▲ 閉環(huán)納米尺度微動(dòng)臺(tái)控制，位移更加精確
▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選
▲ 超高穩(wěn)定性，輕松獲得高質(zhì)量原位視頻
技術(shù)參數(shù)
功能：壓痕，壓縮，拉伸
載荷量程：100mN
力傳感分辨率：10uN
響應(yīng)時(shí)間：50ms
微調(diào)臺(tái)X/Y；模式：閉環(huán)控制 行程：100(±20)um 精度：20nm
粗調(diào)臺(tái)X/Y/Z；模式：開環(huán)控制 行程：XY軸±10mm、Z軸行程10mm 最小步長(zhǎng)：≤1nm
標(biāo)準(zhǔn)納米力臺(tái)尺寸：130*65*55mm
裸臺(tái)重量：約300g(壓痕)
樣品尺寸：≤30*30mm
選配模塊：加熱(最高400℃)、加電
應(yīng)用案例
納米力臺(tái)微球壓碎過程
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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