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北京格微儀器有限公司

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離子濺射儀在微型電極表面鍍膜中的工藝優化與性能表征

閱讀:54      發布時間:2025-7-17
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一、工藝優化策略
靶材選擇與預處理
靶材適配性:根據電極材料特性選擇靶材。對于復合電極,可采用多靶共沉積技術。
靶材預處理:定期檢查靶材表面污染情況,采用離子束清洗或機械拋光去除氧化層,確保濺射原子純度。
氣體環境與壓力控制
反應濺射優化:在氧化物電極制備中,通過調節氧氣分壓控制薄膜化學計量比。
惰性氣體純度:使用高純度氬氣(≥99.999%)作為濺射氣體,減少雜質摻入。在微型叉指電極制備中,氬氣純度每提升一個數量級,薄膜電阻率可降低15%-20%。
電源參數調控
直流/射頻電源選擇:對于導電基底,采用直流磁控濺射可實現高速沉積(速率達5-10 nm/min);對于絕緣基底,需切換至射頻電源以避免電荷積累。
功率密度優化:通過實驗確定最佳功率密度范圍。
基底溫度與偏壓控制
低溫沉積技術:采用脈沖偏壓或水冷基底臺,將基底溫度控制在80℃以下,避免高溫對柔性基底的損傷。在柔性電極制備中,低溫沉積可使薄膜附著力提升2倍以上。
偏壓輔助沉積:施加-50至-100 V偏壓可增強離子轟擊效應,促進薄膜致密化。
二、性能表征方法
結構表征
X射線衍射(XRD):分析薄膜晶體結構及取向。
透射電子顯微鏡(TEM):觀察薄膜界面結構。在多層電極制備中,TEM可清晰顯示各層厚度及界面擴散情況,指導工藝優化。
形貌表征
原子力顯微鏡(AFM):測量薄膜表面粗糙度。在微型傳感器電極制備中,AFM顯示鍍鉑薄膜粗糙度Ra=0.5 nm,滿足高靈敏度檢測需求。
掃描電子顯微鏡(SEM):觀察薄膜均勻性及缺陷。
電學性能測試
四探針法:測量薄膜電阻率。在鎳電極鍍鉑工藝中,電阻率從優化前的12μΩ·cm降至優化后的8μΩ·cm,接近塊體材料值。
循環伏安法(CV):評估電極電化學活性。在鋰離子電池電極制備中,CV曲線顯示優化后薄膜具有更高的氧化還原峰電流密度,表明電化學反應活性提升。
附著力測試
劃痕法:通過劃痕儀測量薄膜與基底結合力。在鋁電極鍍銅工藝中,優化后薄膜臨界載荷從3 N提升至8 N,滿足工業應用要求。
拉脫法:使用膠帶或專用工具測試薄膜剝離強度。在柔性電極制備中,拉脫測試顯示優化后薄膜附著力達15 N/cm²,遠超行業標準。

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